1° Forum di Astronomia Amatoriale Italiano

Si, Vincenzo, intendevo chiederti come si può stabilire se abbiamo raggiunto la risoluzione limite dello strumento su immagini come questa (anche se mi piacerebbe capirlo anche su immagini di pianeti).
Ragionando un po', basterebbe calcolare la grandezza in arcosecondi del cratere più piccolo che abbiamo risolto e verificarne la dimensione angolare al momento della ripresa, considerato che la Luna varia la sua distanza dal punto di osservazione e, poi, confrontarla alla risoluzione massima raggiungibile teorica in base al campionamento ideale per il nostro diametro?
Se è così, sarebbe simpatico riportare un esempio pratico.

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volpetta.com
Astrofilo sul campo dal 1997

Molto belle e di alta risoluzione !
Complimenti !

Luciano

La questione è interessante anche se complessa. La risposta breve è che la risoluzione si può certo misurare prendendo un craterino ben contrastato e calcolando l'angolo che sottende alla distanza lunare, il punto è che quello che ottieni non è né la risoluzione limite dello strumento, né quella dell'immagine che può avere risoluzioni diverse su dettagli a diverso contrasto. Giusto per dare dei numeri, ho comunque provato su altre immagini ottenendo valori intorno a 0.3" su piccoli crateri lunari.
Per quanto attiene al primo punto, il potere risolutivo tanto spesso citato (a sproposito) è quello di Dawes, e si applica rigidamente solo ad oggetti puntiformi aventi contrasto molto alto (stelle su fondo scuro). Per gli oggetti estesi è tutta un'altra cosa e la risoluzione dipende anche dalla forma dei dettagli, oltre che dal loro contrasto. Pickering, negli esperimenti che citavo nell'altro topic, vide una linea scura di 0.03" (1/15 del limite di Dawes, R', con il suo 10") ma per separarne due scure parallele su fondo chiaro il limite era molto superiore, 1.5 volte R'. Uno spot nero su fondo chiaro aveva per qualche motivo visibilità intermedia (0.2", pari a R'/2.3).
Se le immagini sono fortemente processate questo ha impatto sulle misure, visto che i dettagli si allargano.
Infine, è interessante notare che posso misurare un craterino perché so che è un cratere ed è abbastanza grosso, mentre se misurassi la linea scura di cui sopra otterrei un valore che non ha nulla a che vedere con le dimensioni fisiche dell'oggetto; so solo che è molto sotto la misura angolare del disco di Airy del mio strumento.
Ricordo di aver visto su queste pagine dei profili di intensità fatti con ImageJ, non ho mai provato a farne anche perché non sono sicuro dell'attendibilità dei risultati (di quelli del SW sì, dell'interpretazione data a quei numeri intendo).

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